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Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
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品牌： Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
单价： 面议
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发货期限： 自买家付款之日起 天内发货
所在地： 广东 深圳市
有效期至： 长期有效
最后更新： 2015-08-27 09:04
浏览次数： 349
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明

1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层

2.分辨率0.1μm

3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm

4.探头需另选购

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