中 华 人 民 共 和 国 行 业 标 准
JB/T4730.2—2005
代替JB 4730—1994部分
承 压 设 备 无 损 检 测
第2部分：射线检测
Nondestructive Testing of Pressure Equipments—
Part 2：Radiographic testing
2005-07-26发布 2005-11-01 实施
国家发展和改革委员会发 布
目 次
前言 …………………………………………………………………………………………………………3
1 范围 …………………………………………………………………………………………………… 4
2.规范性引用文件………………………………………………………………………………………… 4
3 一般要求 ……………………………………………………………………………………………… 4
4 具体要求 ……………………………………………………………………………………………… 6
5 承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级 ………………………………………………… 12
6 承压设备熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级…………………………………………… 18
7 射线检测报告………………………………………………………………………………………… 21
附录A（资料性附录） 工业射线胶片系统的特性指标……………………………………………… 22
附录B（资料性附录） 黑度计（光学密度计）定期校验方法……………………………………… 23
附录C（资料性附录） 典型透照方式示意图………………………………………………………… 24
附录D（资料性附录） 环向对接焊接接头透照次数确定方法……………………………………… 27
附录E（规范性附录） 焦点尺寸计算方法…………………………………………………………… 34
附录F（规范性附录） 专用像质计的型式和规格…………………………………………………… 35
附录G（规范性附录） 搭接标记的摆放位置………………………………………………………… 36
附录H（规范性附录） 对比试块的型式和规格……………………………………………………… 38
前 言
JB/T4730.1～4730.6—2005《承压设备无损检测》分为以下六部分：
——第1部分：通用要求；
——第2部分：射线检测；
——第3部分：超声检测；
——第4部分：磁粉检测；
——第5部分：渗透检测；
——第6部分：涡流检测。
本部分为JB/T4730.1～4730.6—2005的第2部分：射线检测。本部分主要根据国内多年的研究成果和应用经验，参考欧洲EN标准、ASME《锅炉压力容器规范》第Ⅴ篇、JIS标准，以及行业反馈意见进行修订。与JB4730—1994相比主要变化如下：
1．对射线照相技术等级的指标重新划定，增加了不同情况下选择射线照相技术等级的规定。
2．对不同透照厚度、不同透照方式射线底片的象质指数要求进行了修订，灵敏度有所提高。
3．增加了工业射线胶片系统分类的内容，将胶片分为T1、T2、T3、T4四类。增加附录A（资料性附录），对胶片系统的特性指标提出了要求。
4．在附录D（资料性附录）中增加了根据不同K值要求，确定相应环向对接焊接接头透照次数的图表。
5．对原标准规定的不同射线源适用的底片黑度范围进行了修订，底片黑度范围有所提高。
6．对小径管环向对接焊接接头的透照布置和透照次数的内容进行了修订。
7．增加了Se-75射线源应用的规定。
8．增加了曝光曲线的内容。
9．对观片灯亮度的有关要求进行了修改。
10．对钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金不同厚度允许的管电压图进行了修订。
11．增加黑度计（光学密度计）内容，在附录B（资料性附录）中对黑度计的定期校验方法作了明确规定。
12．增加了镍及镍基合金、铜及铜合金压力容器对接焊接接头射线检测质量分级内容。
13．增加了钢、镍、铜及铜合金制压力管道环向对接焊接接头的射线检测质量分级内容（纵向焊接接头和螺旋管焊接接头的射线检测也可参照执行）；增加了铝及铝合金、钛及钛合金压力接管环向对接焊接接头射线检测质量分级内容。
本部分的附录E、附录F、附录G和附录H为规范性附录，附录A、附录B、附录C和附录D为资料性附录。
本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会（SAC/TC262）提出。本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会（SAC/TC262）归口。
本部分主要起草人：强天鹏、袁榕、郑世才、李伟、陈文虎、李衍、何泽云。
承压设备无损检测
第2部分：射线检测
1 范围
JB/ T4730的本部分规定了承压设备金属材料受压元件的熔化焊对接接头的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。
本部分适用于承压设备受压元件的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。
本部分规定的射线检测技术分为三级：A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术； B级——高灵敏度技术。
承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款，通过JB/T 4730的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB 11533—1989 标准对数视力表
GB 16357—1996 工业Ｘ射线探伤放射卫生防护标准
GB 18465—2001 工业γ射线探伤放射卫生防护要求
GB 18871—2002 电离辐射防护及辐射源安全基本标准
GB/T 19384.1—2003 无损检测 工业射线照相胶片 第1部分：工业射线胶片系统的分类
GB/T 19384.2—2003 无损检测 工业射线照相胶片 第2部分：用参考值方法控制胶片处理
HB 7684—2000 射线照相用线型像质计
JB/T 4730.1—2005 承压设备无损检测 第1部分：通用要求
JB/T 7902—1999 线型像质计
JB/T 7903—1999 工业射线照相底片观片灯
3.1 射线检测人员
3.1.1 从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。
3.1.2 射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0）, 测试方法应符合GB11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。
3.2 射线胶片
3.2.1 胶片系统按照GB/T 19384.1－2003分为四类，即T1、T2、T3和T4类。T1为类别，T4为类别。胶片系统的特性指标见附录A（资料性附录）。胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T 19384.2－2003的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。
3.2.2 A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。胶片的本底灰雾度应不大于0.3。
3.2.3 采用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采用T2类或更高类别的胶片。
3.3 观片灯
3.3.1 观片灯的主要性能应符合JB/T 7903的有关规定。
3.3.2 观片灯的亮度应能满足评片的要求。
3.4 黑度计（光学密度计）
3.4.1 黑度计可测的黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。
3.4.2 黑度计至少每6个月校验一次。校验方法可参照附录B（资料性附录）的规定进行。
3.5 增感屏
射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表1的规定。
3.6 像质计
3.6.1 底片影像质量采用线型像质计测定。线型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的规定，JB/T 7902中未包含的丝径、线号等内容，应符合HB 7684的有关规定。
表1 增感屏的材料和厚度
|
射线源
|
前 屏
|
后 屏
|
||
|
材料
|
厚度, mm
|
材料
|
厚度, mm
|
|
|
X射线（≤100kV）
|
铅
|
不用或 ≤0.03
|
铅
|
≤0.03
|
|
X射线
（100 kV～150kV）
|
铅
|
≤0.10
|
铅
|
≤0.15
|
|
X射线
（150 kV～250kV）
|
铅
|
0.02～0.15
|
铅
|
0.02～0.15
|
|
X射线
（250 kV～500kV）
|
铅
|
0.02～0.2
|
铅
|
0.02～0.2
|
|
Se-75
|
铅
|
A级 0.02～0.2
|
铅
|
A级 0.02～0.2
|
|
AB级、B级
0.1～0.21）
|
AB级、B级
0.1～0.2
|
|||
|
Ir-192
|
铅
|
A级 0.02～0.2
|
铅
|
A级 0.02～0.2
|
|
AB级、B级
0.1～0.21）
|
AB级、B级
0.1～0.2
|
|||
|
Co-60
|
钢或铜
|
0.25～0.7
|
钢或铜
|
0.25～0.7
|
|
铅（A、AB级）
|
0.5～2.0
|
铅（A、AB级）
|
0.5～2.0
|
|
|
X射线
（1MeV～4MeV）
|
钢或铜
|
0.25～0.7
|
钢或铜
|
0.25～0.7
|
|
铅（A、AB级）
|
0.5～2.0
|
铅（A、AB级）
|
0.5～2.0
|
|
|
X射线
（4MeV～12MeV）
|
铜、钢或钽
|
≤ 1
|
铜、钢
|
≤ 1
|
|
钽
|
≤0.5
|
|||
|
铅（A、AB级）
|
0.5～1.0
|
铅（A、AB级）
|
0.5～1.0
|
|
|
X射线（＞12MeV）
|
钽
|
≤ 1
|
不用后屏
|
|
|
1） 如果AB级、B级使用前屏≤0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07～0.15mm厚的附加铅屏。
|
||||
3.6.2 像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表2的规定。
3.7 表面要求和射线检测时机
3.7.1 在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。
表2 不同材料的像质计适用的材料范围
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像质计材料代号
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Fe
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Ni
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Ti
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Al
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Cu
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像质计材料
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碳钢或奥氏体不锈钢
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镍-铬合金
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工业纯钛
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工业纯铝
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3#纯铜
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适用材料范围
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碳钢,低合金钢,不锈钢
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镍,镍合金
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钛,钛合金
|
铝,铝合金
|
铜,铜合金
|
3.7.2 除非另有规定，射线检测应在焊后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行射线检测。
3.8 射线检测技术等级选择
3.8.1 射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测。
3.8.2 由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时, 经检测方技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定,则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测。
3.8.3 承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时, 经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。
3.9 辐射防护
3.9.1 放射卫生防护应符合GB 18871、GB 16357和GB 18465的有关规定。
3.9.2 现场进行Ｘ射线检测时，应按GB16357的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。
3.9.3 现场进行γ射线检测时，应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。
4 具体要求
4.1 透照布置
4.1.1 透照方式
应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录C（资料性附录）。
4.1.2 透照方向
透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
4.1.3 一次透照长度
一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D（资料性附录）的曲线图确定。
表3 允许的透照厚度比K
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射线检测技术级别
|
A级；AB级
|
B级
|
|
纵向焊接接头
|
K≤ 1.03
|
K≤ 1.01
|
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环向焊接接头
|
K≤ 1.11）
|
K≤ 1.06
|
|
1） 对100mm＜Do≤400mm的环向对接焊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头）, A级、AB级允许采用K≤1.2。
|
||
4.1.4 小径管环向对接焊接接头的透照布置
小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：
T（壁厚）≤8mm； g（焊缝宽度）≤Do /4
椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影间距）在1倍焊缝宽度左右。
不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。
4.1.5 小径管环向对接接头的透照次数
小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：采用倾斜透照椭圆成像时，当T/ Do≤0.12时,相隔90°透照2次。当T/ Do＞0.12时,相隔120°或60°透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。
由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。
4.2 射线能量
4.2.1 X射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量。图1规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的Ｘ射线管电压。
对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图1规定的Ｘ射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过50kV；对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV；对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过30kV。
4.2.2 γ射线源和高能Ｘ射线适用的透照厚度范围应符合表4的规定。
采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许γ射线最小透照厚度取表4下限值的1/2。
采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，经合同各方同意，A级和AB级技术的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm， Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。
1-铜及铜合金；2-钢；3-钛及钛合金；4-铝及铝合金
图1 不同透照厚度允许的Ｘ射线透照管电压
表4 γ射线源和能量1MeV以上Ｘ射线设备的透照厚度范围（钢、不锈钢、镍合金等）
|
射线源
|
透照厚度 W ，mm
|
|
|
A 级 ,AB级
|
B 级
|
|
|
Se-75
|
10 ≤W ≤ 40
|
14 ≤W ≤ 40
|
|
Ir-192
|
20 ≤W ≤ 100
|
20 ≤W ≤ 90
|
|
Co-60
|
40 ≤W ≤ 200
|
60 ≤W ≤ 150
|
|
Ｘ射线（1MeV～4MeV）
|
30 ≤W ≤ 200
|
50 ≤W ≤ 180
|
|
Ｘ射线（＞4 MeV～12MeV）
|
W ≥ 50
|
W ≥ 80
|
|
Ｘ射线（＞12MeV）
|
W ≥ 80
|
W ≥ 100
|
4.3 射线源至工件表面的最小距离
4.3.1 所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下式的要求：
A 级射线检测技术： f ≥ 7.5d·b 2/3
AB级射线检测技术： f ≥ 10d·b 2/3
B 级射线检测技术： f ≥ 15d·b 2/3
图2是A级和B级射线检测技术确定f的诺模图，图3是AB级射线检测技术确定f的诺模图。有效焦点尺寸d按附录E（规范性附录）的规定计算。
图2 A级和B级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图
图3 AB级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图
4.3.2 采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。
4.3.3 采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。
4.4 曝光量
4.4.1 Ｘ射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：A级和AB级射线检测技术不小于15mA·min；B级射线检测技术不小于20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。
4.4.2 采用γ射线源透照时, 总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。
4.5 曝光曲线
4.5.1 对每台在用射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。
4.5.2 制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。
4.5.3 对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。
4.6 无用射线和散射线屏蔽
4.6.1 应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。
4.6.2 对初次制定的检测工艺或当在使用中检测工艺的条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。
检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。
4.7 像质计的使用
4.7.1 像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的1/4左右位置）,金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。
4.7.2 像质计放置原则
a） 单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。
b） 单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧。
c） 单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质指数规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。
d） 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。
4.7.3 原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求:
a） 环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计;
b） 球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔地各放置3个像质计，在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计;
c） 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。
4.7.4 小径管可选用通用线型像质计或附录F（规范性附录）规定的专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨焊缝放置。像质计应置于源侧，当无法放置在源侧时，可将像质计置于胶片侧。
4.7.5 如底片黑度均匀部位（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。专用像质计至少应能识别两根金属丝。
4.8 标记
4.8.1 透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅（或其他适宜的重金属）制数字、拼音字母和符号等构成。
4.8.2 识别标记一般包括：产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记,扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。
4.8.3 定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向,一般用十字箭头“↑→ ”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，可用符号“↑”或其他能显示搭接情况的方法表示。
4.8.4 标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位，搭接标记放置的部位还应符合附录G（规范性附录）的规定。所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。
4.9 胶片处理
4.9.1 可采用自动冲洗或手工冲洗方式处理,推荐采用自动冲洗方式处理。
4.9.2 胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。
4.10 评片要求
4.10.1 评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜,光线应暗且柔和。
4.10.2 评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5 min～10min；从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30s。
4.10.3 评片时，底片评定范围内的亮度应符合下列规定：
当底片评定范围内的黑度 D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2；
当底片评定范围内的黑度 D＞2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。
4.10.4 底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧5mm宽的区域。
4.11 底片质量
4.11.1 底片上,定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。
4.11.2 底片评定范围内的黑度D应符合下列规定:
A 级：1.5≤D≤4.0；
AB级：2.0≤D≤4.0 ；
B 级：2.3≤D≤4.0。
用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时， AB级黑度允许降至1.5；B级黑度可降至2.0。
采用多胶片方法时，单片观察的黑度应符合以上要求。双片叠加观察仅限于A级，叠加观察时，单片的黑度应不低于1.3。
对评定范围内的黑度D＞4.0的底片，如有计量检定报告证明所用观片灯在底片评定范围内的亮度能够满足4.10.3的要求，允许进行评定。
4.11.3 底片的像质计灵敏度
单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表6的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表7的规定。
4.11.4 底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。
5 承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级
5.1 钢、镍、铜制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级
5.1.1 范围
本条规定适用于厚度为2 mm～400mm，材质为碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金制承压设备，以及厚度为2 mm～80mm铜及铜合金制承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。
管子和压力管道环向对接焊接接头射线检测质量分级按照第6章的规定执行。
5.1.2 缺陷类型
对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。
5.1.3 质量分级依据
根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。
表5 像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧
|
应识别丝号
（丝径, mm）
|
公称厚度 （T）范围，mm
|
||
|
A 级
|
AB级
|
B 级
|
|
|
18 （0.063）
|
—
|
—
|
≤ 2.5
|
|
17 （0.080）
|
—
|
≤ 2.0
|
>2.5 ～ 4.0
|
|
16 （0.100）
|
≤2.0
|
> 2.0 ～ 3.5
|
> 4 ～ 6
|
|
15 （0.125）
|
> 2.0 ～ 3.5
|
> 3.5 ～ 5.0
|
> 6 ～ 8
|
|
14 （0.160）
|
>3.5 ～ 5.0
|
>5.0 ～ 7
|
>8 ～ 12
|
|
13 （0.20）
|
>5.0 ～ 7
|
>7 ～ 10
|
> 12 ～ 20
|
|
12 （0.25）
|
>7 ～ 10
|
>10 ～ 15
|
> 20 ～ 30
|
|
11 （0.32）
|
>10 ～ 15
|
>15 ～ 25
|
> 30 ～ 35
|
|
10 （0.40）
|
>15 ～ 25
|
>25 ～ 32
|
> 35 ～ 45
|
|
9 （0.50）
|
>25 ～ 32
|
>32 ～ 40
|
> 45 ～ 65
|
|
8 （0.63）
|
>32 ～ 40
|
>40 ～ 55
|
> 65 ～ 120
|
|
7 （0.80）
|
>40 ～ 55
|
>55 ～ 85
|
> 120 ～ 200
|
|
6 （1.00）
|
>55 ～ 85
|
>85 ～ 150
|
> 200 ～ 350
|
|
5 （1.25）
|
>85 ～ 150
|
>150 ～ 250
|
> 350
|
|
4 （1.60）
|
>150 ～ 250
|
>250 ～ 350
|
—
|
|
3 （2.00）
|
>250～ 350
|
> 350
|
—
|
|
2 （2.50）
|
> 350
|
—
|
—
|
表6 像质计灵敏度值——双壁双影透照、像质计置于源侧
|
应识别丝号
（丝径, mm）
|
透照厚度（W）范围，mm
|
||
|
A 级
|
AB级
|
B 级
|
|
|
18 （0.063）
|
—
|
—
|
≤ 2.5
|
|
17 （0.080）
|
—
|
≤ 2.0
|
> 2.5 ～ 4.0
|
|
16 （0.100）
|
≤ 2.0
|
> 2 ～ 3.5
|
> 4 ～ 6
|
|
15 （0.125）
|
> 2.0 ～ 3.5
|
> 3.5 ～ 5.0
|
> 6 ～ 8
|
|
14 （0.160）
|
> 3.5～ 5.0
|
> 5 ～ 7
|
> 8 ～ 15
|
|
13 （0.20）
|
> 5～ 7
|
> 7 ～ 12
|
> 15 ～ 24
|
|
12 （0.25）
|
> 7 ～ 12
|
> 12 ～ 16
|
> 24 ～ 32
|
|
11 （0.32）
|
> 12 ～ 16
|
> 16 ～ 24
|
> 32～ 40
|
|
10 （0.40）
|
> 16 ～ 24
|
> 24～36
|
> 40～ 58
|
|
9 （0.50）
|
> 24 ～ 36
|
>36 ～ 44
|
> 48～ 56
|
|
8 （ 0.63 ）
|
> 36 ～ 44
|
> 44 ～ 54
|
—
|
|
7 （ 0.80 ）
|
> 44 ～ 54
|
—
|
—
|
表7 像质计灵敏度值——双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧
|
应识别丝号
（丝径, mm）
|
透照厚度（W）范围，mm
|
||
|
A 级
|
AB级
|
B 级
|
|
|
18（0.063）
|
—
|
—
|
≤ 2.5
|
|
17（0.080）
|
—
|
≤ 2.0
|
> 2.5～ 4.0
|
|
16（0.100）
|
≤ 2.0
|
> 2.0 ～ 3.5
|
> 4 ～ 6
|
|
15（0.125）
|
> 2.0 ～ 3.5
|
> 3.5 ～ 5.0
|
> 6 ～ 12
|
|
14（0.160）
|
> 3.5～ 5.0
|
> 5 ～ 10
|
> 12 ～ 18
|
|
13（0.20）
|
> 5 ～ 10
|
> 10 ～ 15
|
> 18 ～ 30
|
|
12（0.25）
|
> 10 ～ 15
|
> 15 ～ 22
|
> 30 ～ 45
|
|
11（0.32）
|
> 15 ～ 22
|
> 22 ～ 38
|
> 45 ～ 55
|
|
10（0.40）
|
> 22 ～ 38
|
> 38 ～ 48
|
> 55 ～ 70
|
|
9 （0.50）
|
> 38 ～ 48
|
> 48 ～ 60
|
> 70 ～ 100
|
|
8 （0.63）
|
> 48 ～ 60
|
> 60 ～ 85
|
> 100 ～ 180
|
|
7 （0.80）
|
> 60 ～ 85
|
> 85 ～ 125
|
> 180 ～ 300
|
|
6 （1.00）
|
> 85 ～ 125
|
> 125～ 225
|
> 300
|
|
5 （1.25）
|
> 125～225
|
> 225～375
|
—
|
|
4 （1.60）
|
> 225～375
|
> 375
|
—
|
|
3 （2.00）
|
> 375
|
—
|
—
|
5.1.4 质量分级一般规定
5.1.4.1 Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。
5.1.4.2 Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。
5.1.4.3 对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。
5.1.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。
5.1.5 圆形缺陷的质量分级
5.1.5.1 圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见表8。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。
5.1.5.2 在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区内的缺陷按表9的规定换算为点数，按表10的规定评定对接焊接接头的质量级别。
表8 缺陷评定区 mm
|
母材公称厚度 T
|
≤ 25
|
＞25～100
|
＞100
|
|
评定区尺寸
|
10×10
|
10×20
|
10×30
|
表9 缺陷点数换算表
|
缺陷长径,mm
|
≤1
|
＞1～2
|
＞2～3
|
＞3～4
|
＞4～6
|
＞6～8
|
＞8
|
|
缺陷点数
|
1
|
2
|
3
|
6
|
10
|
15
|
25
|
表10 各级允许的圆形缺陷点数
|
评定区（mm×mm）
|
10×10
|
10×20
|
10×30
|
||||
|
母材公称厚度 T,mm
|
≤ 10
|
＞10～15
|
＞15～25
|
＞25～50
|
＞50～100
|
＞100
|
|
|
Ⅰ级
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
|
|
Ⅱ级
|
3
|
6
|
9
|
12
|
15
|
18
|
|
|
Ⅲ级
|
6
|
12
|
18
|
24
|
30
|
36
|
|
|
Ⅳ级
|
缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2
|
||||||
|
注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。
|
|||||||
5.1.5.3 由于材质或结构等原因,进行返修可能会产生不利后果的对接焊接接头，各级别的圆形缺陷点数可放宽1～2点。
5.1.5.4 对致密性要求高的对接焊接接头，制造方底片评定人员应考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据。通常将黑度大的圆形缺陷定义为深孔缺陷,当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量级别应评为Ⅳ级。
5.1.5.5 当缺陷的尺寸小于表11的规定时，分级评定时不计该缺陷的点数。质量等级为Ⅰ级的对接焊接接头和母材公称厚度T ≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。
5.1.6 条形缺陷的质量分级
条形缺陷按表12的规定进行分级评定。
表11 不计点数的缺陷尺寸 mm
|
母材公称厚度 T
|
缺陷长径
|
|
T ≤ 25
|
≤0.5
|
|
25 ＜T ≤ 50
|
≤0.7
|
|
T ＞50
|
≤1.4％·T
|
表12 各级对接焊接接头允许的条形缺陷长度 mm
|
级别
|
单个条形缺陷长度
|
一组条形缺陷累计长度
|
|
Ⅰ
|
不 允 许
|
|
|
Ⅱ
|
≤T/3（最小可为4）且≤20
|
在长度为12T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过6L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T,但最小可为4
|
|
Ⅲ
|
≤2T/3（最小可为6）且≤30
|
在长度为6T的任意选定条形缺陷评定区内，相邻缺陷间距不超过3L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T，但最小可为6
|
|
Ⅳ
|
大于Ⅲ级
|
|
|
注1：L为该组条形缺陷中最长缺陷本身的长度；T为母材公称厚度，当母材公称厚度不同时取较薄板的厚度值。
注2：条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行的、具有一定宽度的矩形区， T≤25mm，宽度为 4mm；25 mm＜T≤ 100mm，宽度为6mm；T＞100mm，宽度为8mm。
注3：当两个或两个以上条形缺陷处于同一直线上、且相邻缺陷的间距小于或等于较短缺陷长度时，应作为1个缺陷处理，且间距也应计入缺陷的长度之中。
|
||
5.1.7 综合评级
5.1.7.1 在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级。
5.1.7.2 综合评级的级别如下确定：对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。
5.2 铝制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级
5.2.1 范围
本条规定适用于厚度为2 mm～80mm铝及铝合金承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。
5.2.2 缺陷类型
对接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、夹铜、条形缺陷和圆形缺陷六类。
5.2.3 质量分级依据
根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。
5.2.4 质量分级一般规定
5.2.4.1 Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、夹铜缺陷和条形缺陷。
5.2.4.2 Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和夹铜缺陷。
5.2.4.3 对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。
5.2.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。
5.2.5 圆形缺陷的分级评定
5.2.5.1 圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见表13。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。
表13 缺陷评定区 mm
|
母材公称厚度 T
|
≤ 20
|
＞20～80
|
|
评定区尺寸
|
10×10
|
10×20
|
5.2.5.2 在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区内的缺陷按表14的规定换算为点数，按表15的规定评定对接焊接接头的质量级别。
5.2.5.3 对由于材质或结构等原因,进行返修可能会产生不利后果的焊接接头,各级别的圆形缺陷点数可放宽1～2点。
表14 圆形缺陷点数换算表
|
缺陷长径,mm
|
≤1
|
＞1～2
|
＞2～3
|
＞3～4
|
＞4～6
|
＞6～8
|
＞8～10
|
|
缺陷点数
|
1
|
2
|
3
|
6
|
10
|
15
|
25
|
表15 各级别对接接头允许的圆形缺陷最多点数
|
评定区，mm×mm
|
10×10
|
10×20
|
||||
|
母材公称厚度T,mm
|
≤ 3
|
＞3 ～ 5
|
＞ 5～10
|
＞10～20
|
＞20～40
|
＞40～80
|
|
Ⅰ级
|
1
|
2
|
3
|
4
|
6
|
7
|
|
Ⅱ级
|
3
|
7
|
10
|
14
|
21
|
24
|
|
Ⅲ级
|
6
|
14
|
21
|
28
|
42
|
49
|
|
Ⅳ级
|
缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于2T/3或缺陷长径大于10mm
|
|||||
|
注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。
|
||||||
5.2.5.4 当Ⅲ级对接焊接接头允许的缺陷点数连续存在、并超过评定区尺寸的3倍时，对接接头质量应评定为Ⅳ级。
5.2.5.5 对致密性要求高的对接焊接接头，制造方底片评定人员应考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据，通常将黑度大的圆形缺陷定义为深孔缺陷,当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量等级应评为Ⅳ级。
5.2.5.6 当缺陷的尺寸小于表16的规定时，分级评定时不计该缺陷的点数。但对于Ⅰ级对接焊接接头和母材公称厚度T ≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个，超过时对接焊接接头质量应降低一级。
表16 不计点数的缺陷尺寸 mm
|
母材公称厚度 T
|
缺陷长径
|
|
≤ 20
|
≤ 0.4
|
|
＞ 20 ～ 40
|
≤ 0.6
|
|
＞40
|
≤ 1.5％·T
|
5.2.6 条形缺陷的分级评定
条形缺陷按5.1.6的规定进行质量分级评定。
5.2.7 综合评级
5.2.7.1 在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级。
5.2.7.2 综合评级的级别如下确定：对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。
5.3 钛及钛合金制承压设备熔化焊对接焊接接头射线检测质量分级
5.3.1 范围
本条规定适用于厚度为2mm～50mm，材质为钛及钛合金的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。
5.3.2 缺陷类型
焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷等五类。
5.3.3 质量分级依据
根据对接焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。
5.3.4 质量分级一般规定
5.3.4.1 Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。
5.3.4.2 Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透。
5.3.4.3 对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。
5.3.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。
5.3.5 圆形缺陷的分级评定
5.3.5.1 圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见表17。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。
表17 圆形缺陷评定区 mm
|
母材公称厚度 T
|
≤ 20
|
＞20～50
|
|
评定区尺寸
|
10×10
|
10×20
|
表18 缺陷点数换算表
|
缺陷长径, mm
|
≤1
|
＞1～2
|
＞2～4
|
＞4～8
|
＞8
|
|
缺陷点数
|
1
|
2
|
4
|
8
|
16
|
表19 各级别对接接头允许的圆形缺陷最多点数
|
评定区
|
10 mm×10 mm
|
10 mm×20 mm
|
||||
|
母材公称厚度
T, mm
|
≤ 3
|
＞3～5
|
＞5～10
|
＞10～20
|
＞20～30
|
＞30～50
|
|
Ⅰ级
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
|
Ⅱ级
|
2
|
4
|
6
|
8
|
10
|
12
|
|
Ⅲ级
|
4
|
8
|
12
|
16
|
20
|
24
|
|
Ⅳ级
|
缺陷点数大于Ⅲ级或缺陷长径大于T/2
|
|||||
|
注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。
|
||||||
5.3.5.2 在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定区内的缺陷按表18的规定换算为点数，按表19的规定评定对接焊接接头的质量级别。
5.3.5.3 对由于材质或结构等原因,进行返修可能会产生不利后果的焊接接头,各级别的圆形缺陷点数可放宽1～2点。
5.3.5.4 对致密性要求高的对接焊接接头，制造方底片评定人员应考虑将圆形缺陷的黑度作为评级的依据，通常将黑度大的圆形缺陷定义为深孔缺陷,当对接焊接接头存在深孔缺陷时，其质量应评为Ⅳ级。
5.3.5.5 当缺陷的尺寸小于表20的规定时，分级评定时不计该缺陷的点数。但对于Ⅰ级对接接头和母材公称厚度T ≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个。母材公称厚度T ＞5mm的Ⅱ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于20个。母材公称厚度T ＞5mm的Ⅲ级对接焊接接头，不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于30个。超过上述规定时对接焊接接头质量应降低一级。
表20 不计点数的缺陷尺寸 mm
|
母材公称厚度T
|
缺陷长径
|
|
≤ 10
|
≤ 0.3
|
|
＞ 10 ～ 20
|
≤ 0.4
|
|
＞ 20 ～ 50
|
≤ 0.7
|
5.3.6 条形缺陷的分级评定
条形缺陷按5.1.6的规定进行质量分级评定。
5.3.7 综合评级
5.3.7.1 在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时，应进行综合评级。
5.3.7.2 综合评级的级别如下确定：对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。
6 承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级
6.1 钢、镍、铜承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级
6.1.1 范围
本条适用于壁厚T ≥2mm碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍基合金、铜及铜合金承压设备管子及压力管道的熔化焊环向对接焊接接头射线检测的质量分级。
6.1.2 缺陷类型
对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹、根部咬边等七类。
6.1.3 质量分级依据
根据对接焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。
6.1.4 质量分级的一般规定
6.1.4.1 Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、根部内凹、根部咬边。
6.1.4.2 Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合，双面焊以及加垫板单面焊中的未焊透。
6.1.4.3 对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。
6.1.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。
6.1.5 圆形缺陷的分级评定
按5.1.5的规定进行质量分级评定。但对小径管缺陷评定区取10mm×10mm。
6.1.6 条形缺陷的分级评定
按5.1.6的规定进行质量分级评定。
6.1.7 不加垫板单面焊的未焊透缺陷的分级评定
管外径Do＞100mm时，不加垫板单面焊的未焊透缺陷按表21的规定进行质量分级评定。管外径Do≤100mm的小径管不加垫板单面焊的未焊透缺陷按表22的规定进行质量分级评定。管外径Do＞100mm的管子未焊透深度可采用附录H（规范性附录）规定的一般对比试块（Ⅱ型）进行测定。管外径Do≤100mm的小径管的未焊透深度可采用附录H（规范性附录）规定的小径管专用对比试块（ⅠA或ⅠB型）进行测定,测定时，对比试块应置于靠近被测未焊透缺陷附近部位。
表21 管外径Do＞100mm时不加垫板单面焊未焊透的分级
|
级别
|
未焊透深度,mm
|
单个未焊透长度,mm
（T,壁厚）
|
未焊透累计长度,mm
|
||
|
与壁厚的比
|
值
|
||||
|
Ⅰ
|
不允许
|
||||
|
Ⅱ
|
≤10％
|
≤ 1.0
|
≤T/3（最小可为4）
且≤20
|
在任意6T长度区内应不大于T（最小可为4），且任意300mm长度范围内总长度不大于30
|
|
|
Ⅲ
|
≤15％
|
≤1.5
|
≤2T/3（最小可为6）且≤30
|
在任意3T长度区内应不大于T（最小可为6），且任意300mm长度范围内总长度不大于40
|
|
|
Ⅳ
|
大于Ⅲ级
|
||||
|
注：对断续未焊透,以未焊透本身的长度累计计算总长度。
|
|||||
6.1.8 根部内凹和根部咬边的分级评定
管外径Do＞100mm时，不加垫板单面焊的根部内凹和根部咬边缺陷按表23的规定进行质量分级评定。管外径Do≤100mm的小径管不加垫板单面焊的根部内凹和根部咬边缺陷按表24的规定进行质量分级评定。管外径Do＞100mm的管子和容器根部内凹和根部咬边深度可采用附录H（规范性附录）规定的一般对比试块（Ⅱ型）进行测定。管外径Do≤100mm的小径管的根部内凹和根部咬边深度可采用附录H（规范性附录）规定的小径管专用对比试块（ⅠA或ⅠB型）进行测定,测定时，对比试块应置于管的源侧表面、靠近被测根部内凹和根部咬边缺陷附近部位。
表22 管外径Do≤100mm（小径管）时不加垫板单面焊未焊透的分级
|
级别
|
未焊透深度,mm
|
未焊透总长度与焊缝总长度的比
|
|
|
与壁厚的比
|
值
|
||
|
Ⅰ
|
不允许
|
||
|
Ⅱ
|
≤10％
|
≤1.0
|
≤10％
|
|
Ⅲ
|
≤15％
|
≤1.5
|
≤15％
|
|
Ⅳ
|
大于Ⅲ级
|
||
|
注：对断续未焊透,以未焊透本身的长度累计计算总长度。
|
|||
表23 外径Do＞100mm时根部内凹和根部咬边的分级
|
级别
|
根部内凹和根部咬边深度,mm
|
根部内凹和根部咬边累计长度,mm
|
|
|
与壁厚的比
|
值
|
||
|
Ⅰ
|
不允许
|
||
|
Ⅱ
|
≤15％
|
≤1.5
|
在任意3T长度区内不大于T；
总长度不大于100
|
|
Ⅲ
|
≤20％
|
≤2.0
|
|
|
Ⅳ
|
大于Ⅲ级
|
||
|
注：对断续根部内凹和根部咬边,以根部内凹和根部咬边本身的长度累计计算总长度。
|
|||
表24 外径Do≤100mm时根部内凹和根部咬边的分级
|
级别
|
根部内凹和根部咬边深度,mm
|
根部内凹和根部咬边总长度与焊缝总长度的比
|
|
|
与壁厚的比
|
值
|
||
|
Ⅰ
|
不允许
|
||
|
Ⅱ
|
≤15％
|
≤1.5
|
≤30％
|
|
Ⅲ
|
≤20％
|
≤2.0
|
≤30％
|
|
Ⅳ
|
大于Ⅲ级
|
||
|
注：对断续根部内凹和根部咬边,以根部内凹和根部咬边本身的长度累加计算总长度。
|
|||
6.1.9 综合评级
在条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行综合评级。对各类缺陷分别评定级别，取质量级别的级别作为综合评级的级别；当各类缺陷的级别相同时，则降低一级作为综合评级的级别。
6.2 铝及铝合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环形对接接头射线检测质量分级
6.2.1 范围
本条适用于壁厚T ≥2mm铝及铝合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接接头射线检测的质量分级。
6.2.2 缺陷类型
焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、夹铜、条形缺陷、圆形缺陷、根部内凹、根部咬边等八类。
6.2.3 质量分级依据
根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。
6.2.4 质量分级的一般规定
6.2.4.1 Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、夹铜、条形缺陷、根部内凹、根部咬边。
6.2.4.2 Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、双面焊以及加垫板单面焊中的未焊透、夹铜。
6.2.4.3 对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。
6.2.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。
6.2.5 圆形缺陷的分级评定
按5.2.5的规定进行质量分级评定。
6.2.6 条形缺陷的分级评定
按5.2.6的规定进行质量分级评定。
6.2.7 不加垫板单面焊的未焊透缺陷的分级评定
按6.1.7的规定进行质量分级评定。
6.2.8 根部内凹的和根部咬边分级评定
按6.1.8的规定进行质量分级评定。
6.2.9 综合评级
按6.1.9的规定进行评定。
6.3 钛制及钛合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测质量分级
6.3.1 范围
本条适用于壁厚T ≥2mm钛及钛合金制承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头射线检测的质量分级。
6.3.2 缺陷类型
按6.1.2的规定分类。
6.3.3 质量分级依据
根据对接焊接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度，其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。
6.3.4质量分级的一般规定
6.3.4.1 Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷、根部内凹、根部咬边。
6.3.4.2 Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、双面焊以及加垫板单面焊中的未焊透。
6.3.4.3 对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。
6.3.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。
6.3.5 圆形缺陷的分级评定
按5.3.5的规定进行质量分级评定。
6.3.6 条形缺陷的分级评定
按5.3.6的规定进行质量分级评定。
6.3.7 不加垫板单面焊的未焊透缺陷的分级评定
按6.1.7的规定进行质量分级评定。
6.3.8 根部内凹和根部咬边的分级评定
按6.1.8的规定进行质量分级评定。
6.3.9 综合评级
按6.1.9的规定进行评定。
7 射线检测报告
检测报告至少应包括下述内容：
a） 委托单位；
b） 被检工件：名称、编号、规格、材质、坡口型式、焊接方法和热处理状况；
c） 检测设备：名称、型号和焦点尺寸；
d） 检测标准和验收等级；
e） 检测规范：技术等级、透照布置、胶片、增感屏、射线能量、曝光量、焦距、暗室处理方式和条件等；
f） 工件检测部位应在草图上予以标明，如有因几何形状限制而检测不到的部位，也应加以说明；
g） 检测结果及质量分级；
h） 检测人员和责任人员签字及其技术资格；
i） 检测日期。
附录A（资料性附录）
工业射线胶片系统的特性指标
A.1 胶片系统的主要特性指标
工业射线胶片系统的主要特性指标见表A.1。
表A.1 胶片系统的主要特性指标
|
胶片系统类别
|
感光速度
|
特性曲线平均梯度
|
感光乳剂粒度
|
梯度最小值 （Gmin）
|
颗粒度
值
（σD）max
|
（梯度/颗粒度）最小值
（ G/σD）min
|
|
|
D=2.0
|
D=4.0
|
D=2.0
|
D=2.0
|
||||
|
T1
|
低
|
高
|
微粒
|
4.3
|
7.4
|
0.018
|
270
|
|
T2
|
较低
|
较高
|
细粒
|
4.1
|
6.8
|
0.028
|
150
|
|
T3
|
中
|
中
|
中粒
|
3.8
|
6.4
|
0.032
|
120
|
|
T4
|
高
|
低
|
粗粒
|
3.5
|
5.0
|
0.039
|
100
|
|
注：表中的黑度均指不包括灰雾度的净黑度。
|
|||||||
附录B
黑度计（光学密度计）定期校验方法
B.1 黑度计校验的一般规定
黑度计可按照生产厂推荐的方法或按B.2规定的方法校验。
B.2 黑度计校验步骤
B.2.1 接通黑度计外电源和测量开关,预热10min左右。
B.2.2 用标准黑度片（密度片）的零黑度点（区）校准黑度计零点,校准后顺次测量黑度片上不同黑度的各点的黑度,记录测量值。
B.2.3 按B 2.2的规定反复测量三次。
B.2.4 计算出各点测量值的平均值,以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。
B.2.5 对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过±0.05,否则黑度计应校准、修理或报废。
B.2.6 所使用的标准黑度片至少应每2年送计量单位检定一次。
附录C
典型透照方式示意图
C.1 典型透照方式
图C.1～图C.8给出了常用的典型透照方式示意图,可供透照布置时参考。图中d表示射线源，F表示焦距，b表示工件至胶片距离，f表示射线源至工件距离，T表示公称厚度，Do表示管子外径。
图C.1 纵、环向焊接接头源在外单壁透照方式
图C.2 纵、环向焊接接头源在内单壁透照方式
图C.3 环向焊接接头源在中心周向透照方式
图C.4 环向焊接接头源在外双壁单影透照方式（1）
图C.5 环向焊接接头源在外双壁单影透照方式（2）
图C.6 纵向焊接接头源在外双壁单影透照方式
图C.7 小径管环向对接焊接接头倾斜透照方式
图C.8 小径管环向对接焊接接头垂直透照方式
注：图C.1，图C.3，图C.5和图C.7为椭圆成像；图C.2，图C.4，图C.6和图C.8为重叠成像。
附录D
环向对接焊接接头透照次数确定方法
D.1 透照次数曲线图
对外径Do＞100mm的环向对接焊接接头进行100%检测，所需的最少透照次数与透照方式和透照厚度比有关，这一数值可从图D.1~图D.6中直接查出。
a） 图D.1为源在外单壁透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.06的透照次数曲线图；
b） 图D.2为用其他方式（偏心内透法和双壁单影法）透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.06的透照次数曲线图;
c） 图D.3为源在外单壁透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.1的透照次数曲线图；
d） 图D.4为用其他方式（偏心内透法和双壁单影法）透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.1的透照次数曲线图。
e） 图D.5为源在外单壁透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.2的透照次数曲线图；
f） 图D.6为用其他方式（偏心内透法和双壁单影法）透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.2的透照次数曲线图。
D.2由图确定透照次数的方法
从图中确定透照次数的步骤是:计算出T/Do、Do/f，在横坐标上找到T/Do值对应的点,过此点画一垂直于横坐标的直线; 在纵坐标上找到Do/f对应的点,过此点画一垂直于纵坐标的直线；从两直线交点所在的区域确定所需的透照次数;当交点在两区域的分界线上时,应取较大数值作为所需的最少透照次数。
图D.1 源在外单壁透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.06时的透照次数图
图D.2 其他方式透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.06时的透照次数
图D.3 源在外单壁透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.1时的透照次数
图D.4 其他方式透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.1时的透照次数
图D.5 源在外单壁透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.2时的透照次数
图D6 其他方式透照环向对接焊接接头，透照厚度比K=1.2时的透照次数
附录E
（规范性附录）
焦点尺寸计算方法
E.1 焦点尺寸计算
射线源焦点形状按图E.1所示划分为正方形、长方形、圆形、椭圆形四类,其有效焦点尺寸d分别按式（E-1） 、式（E-2）和式（E-3）计算。
正方形焦点： d=a……………………（E-1）
长方形、椭圆形焦点： d=（a+b）/2……………（E-2）
圆形焦点： d=d……………………（E-3）
图E.1 焦点形状分类
附录G
搭接标记的摆放位置
G.1 搭接标记的摆放位置
搭接标记的摆放位置应符合图G.1～图G.5所示的规定。
图G.1 平面工件或纵焊接接头
图G.2 射线源到胶片距离F小于曲面工件的曲率半径
图G.3 凸面朝向射线源的曲面部件
G.4 射线源到胶片距离F大于曲面工件的曲率半径
图G.5 射线源在曲面工件的曲率中心
附录H
对比试块的型式和规格
H.1 对比试块
对比试块分为小径管专用对比试块（Ⅰ型）和一般对比试块（Ⅱ型）两类。制作对比试块的材料应与被检工件的材料的射线吸收系数相同或相近。
H.2 小径管专用对比试块的型式、规格和尺寸
Ⅰ型专用对比试块分ⅠA和ⅠB两种型式，其规格和尺寸应符合图H.1和表H.1的规定。
H.3 一般对比试块的型式、规格和尺寸
Ⅱ型对比试块的型式、规格和尺寸应符合图H.2和表H.2的规定。
图H.1 小径管专用对比试块
图H.2 一般对比试块（Ⅱ型）
表H.1 小径管专用对比试块（Ⅰ型）的尺寸 mm
|
管壁厚T
|
阶厚度T1
|
偏差
|
第二阶厚度T2
|
偏差
|
第三阶厚度T3
|
偏差
|
|
3.5
|
1
|
0
- 0.06
|
0.65
|
+ 0.025
0
|
0.5
|
+0.025
0
|
|
4
|
1
|
0.6
|
0.4
|
|||
|
5
|
1
|
0.5
|
0.25
|
|||
|
6
|
1
|
0.4
|
0.1
|
表H.2 一般对比试块（Ⅱ型）的尺寸 mm
|
尺寸
|
h1
|
h2
|
h3
|
h4
|
h5
|
h1- h5
的偏差
|
h
|
h的
偏差
|
d
|
d的
偏差
|
D
|
D的偏差
|
|
|
对比
块编
号
|
Ⅰ
|
0.3
|
0.6
|
1.2
|
1.5
|
1.8
|
0
-0.06
|
2.5
|
0
-0.10
|
1.0
|
+0.06
0
|
_
|
_
|
|
Ⅱ
|
0.5
|
1.0
|
1.5
|
2.0
|
2.5
|
0
- 0.10
|
3.5
|
0
-0.12
|
1.0
|
+0.06
0
|
2.0
|
+0.06
0
|
|