超声相控阵检测系统

Multi X 系列全并行式超声相控阵检测系统

　　Multi X不同于其他相控阵系统，它具有独特的全并行硬件结构。强大的硬件可支持全部通道同时激发和接收，实现高灵敏度、高分辨率检测。
Multi X同时可以驱动线性和矩阵探头，可以进行精确检测并且不降低检测速度。主要应用于高灵敏度材料检测。

Multi X LF 系列低频高压超声相控阵系统

　　Multi X LF 使用全并行硬件结构，激发电压高，频带宽，并且可以产生脉冲串，支持常规探头和相控阵探头。可用于高衰减材料检测，也可用于导波研究。