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高精度全能型桌面X射线衍射仪

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所在地: 北京
有效期至: 长期有效
最后更新: 2014-11-20 09:37
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明
  TECLAB的X射线分析系统应用X射线衍射技术结合最新的驱动技术,进行晶态和非晶态材料的材料性能研究和质量控制,可分析粉末、固体、薄膜、液体等类型的样品。
      全新的平台设计可以将搭配各种配件实现各种测量和分析:X射线粉末衍射(XRPD)、漫散射或“全”散射(PDF分析)、小角X射线散射(SAXS)、薄膜分析、荧光光谱、拉曼光谱分析……
    1. 全能研究级桌面型XRD,

2. 采用最新的无齿轮直接驱动测角器:
    大大降低扫描误差,提升机械精度和可靠性
    消除了一般XRD产品齿轮传动角度位置非线性及齿轮间隙游移误差
     新技术将绝对角度精度提升到优于0.001°2theta
3. 独特的Theta-Theta测角技术,而非2Theta测角器:
    测量时无需旋转样品,样品台保持水平不动即可
    样品台空间大幅提升
    被测样品可以很大也可以很小
    工业零部件更容易测量
   低角度测量小于1° 2theta,可选配极易使用的掠入射衍射研究附件
    可放置各种样品夹持台,包括加热制冷台,薄膜台,SAXS附件
4. 全系列高计数率探测器(标配10^7 CPS)

5. 自动样品更换器可放置多样品测量
6. 功能全面的而经济软件包,100000个材料衍射数据库免费送
7.采用紧凑型X射线源驳接细管准直器实现微样品分析,这样的X射线微探头可以分析50微米的样品而且可以获得优异的信噪比
8.SAXS和WAXS解决方案,1D或2D高灵敏快速带状探测器
9.点探测器提供的优异灵敏度及线性,宽动态范围高计数率 10MHz YAP(Ce) 10^7 cps 特别适用于荧光样品
10.实时快速带状探测器 1280带50um宽8x64mm^2探测区,每秒每带2x10^5计数率,单光子计数
11.丰富的光学配件支持透射和反射切换
12.二级单色仪测量含铁荧光物质
13.从低温到1500℃变温台用于物相分析及变温拉伸压缩
14.满足所有国际安全标准  优于0.3mm Pb防护
15.Xenia Search Match数据采集分析软件,稳定可靠的Nyx控制程序
16.无需ICDD数据库,免费100000样 CIG格式 COD晶体开放数据库
17.医药行业 21CFR Part 11标准格式报告
18.可集成532nm或785nm拉曼光谱分析分子组成或结构
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